产品简介  Product information                                      

   评估 USB Type-A 公头 在重复插拔工况下的机械寿命极限，并通过破坏性测试确定其最终失效模式。测试结果表明，该测试样品在 10,500次 标准插拔循环后，仍能保持基本的电气连接功能。但在后续的加速破坏性测试中，于 循环附近出现明显的机械结构疲劳和电气性能下降，最终失效模式为端子弹片性变形导致的接触不良。

1. 确定USB测试插头在正常及加速条件下的更大插拔寿命。

2. 识别插拔过程中的主要磨损和失效机制。

3. 评估接口在寿命末期及破坏后的电气性能变化。

4. 为产品设计和材料选择提供可靠性数据支持。

技术参数  Technical parameter                                      

初始检查: 对样品进行外观检查和初始电气性能测试，记录数据。

正常寿命测试: 进行连续插拔测试，直至达到目标循环次数 (如：10,000次) 或出现功能失效。

破坏性测试: 在正常寿命测试结束后，继续以更高的频率（如：20次/分钟）进行加速测试，直至样品完全失效。

中期检查: 每1,000次循环暂停，进行外观和电气性能检查。

最终检查: 测试结束后，对失效样品进行显微镜下的结构分析，确定失效根本原因。

配件耗材  Accessory consumables                                

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应用场景  Application                                                     

失效分析

主要失效模式: 端子接触弹片的塑性变形和疲劳。这是导致接触压力不足、接触电阻增大的直接原因。

次要失效模式: 端子表面镀层（通常是镀金或镀锡）的磨损，导致基底材料暴露，易氧化并使接触电阻不稳定。

根本原因:

材料疲劳: 长期反复的弯曲应力导致弹片金属材料发生疲劳，失去回弹能力。

结构设计: 弹片的初始接触压力和弯曲弧度设计决定了其耐疲劳寿命。

工艺与镀层: 镀层的硬度和厚度不足，无法有效抵抗磨损

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