SIM厚薄度限制测试卡,-SIM门限测试卡或者卡托,东莞市稳健科技有限公司
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SIM厚薄度限制测试卡

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SIM厚薄度限制测试卡

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    产品简介  Product information                                 

    手机产品设计的空间越来越紧凑,留给SIM卡的空间越来越小,近年来,手机SIM卡的贴装方式改为:SIM1,SIM2,TF卡,支架,盖板分贴的方式组装在PCB板上,整板过回焊炉后,因为锡膏的回点过程中,存在高低偏执,导致读卡可能存在失败,而这些尺寸功能通过AOI光学检测受限而无法检测出来,故仅能使用仿真测试卡判断贴装是否符合设计预期。

    客户特定要求:

      验证SIM厚薄度限制测试卡(以下简称“测试卡”)的各项关键性能指标是否符合设计规格和行业标准(如ISO/IEC 7810等)。主要评估其尺寸精度、光学特性、机械耐久性及功能有效性,确保其能准确、可靠地用于检测SIM卡或类似ID-1卡型产品的厚度是否符合规范。

    材料硬度与耐磨性

    方法: 使用耐磨测试仪,以特定负载和循环次数对测试卡表面进行摩擦,然后观察表面磨损情况。

    要求: 测试后,厚度测量区域的表面不应有可见的磨损或厚度变化超过±2μm。

    500次循环测试后,所有样品表面均无可见磨损,厚度变化小于1μm。 耐磨性满足长期使用的要求。

    技术参数  Technical parameter                                  

    测量位置规格要求 (mm)样品1实测 (mm)样品2实测 (mm)样品3实测 (mm)结论
    厚区(上限)0.84 ± 0.010.8390.8410.840合格
    标准区0.76 ± 0.010.7610.7590.760合格
    薄区(下限)0.64 ± 0.010.6420.6480.641合格
    过渡区平滑度平滑无台阶平滑平滑平滑合格


    配件耗材  Accessory consumables                             

    弹力卡尺    低弹力高度规

    应用场景  Application                                                  

    SMT车间贴片后检验

    视图展示  View display